Новосибирские физики создали самую гладкую в мире поверхность
30.04.2015 - 17:07
Ученые Института физики полупроводников им. Ржанова (Новосибирск) разработали эталон измерений для нанотехнологий, сообщил журналистам старший научный сотрудник ИФП Сергей Косолобов.
«Мы создали эталонный объект, его зарегистрировали в Государственном реестре средств измерений РФ, он используется, в частности, производителями силовых микроскопов. Это эталон высоты», — сказал он.
По его словам, в условиях сверхвысокого вакуума удалось получить поверхности, «шероховатости» на которых равны «высоте» одного атома кремния, при этом между ними образуются достаточно широкие «террасы», которые не содержат таких выступов.
«Это самая гладкая поверхность, которую можно получить любыми способами», — сказал он.
Ученый отметил, что размеры таких поверхностей составляют от 10 до 300 микрон, при этом высота одной атомной «ступени» всегда одинакова — 0,3 нанометра, однако технология позволяет построить «шероховатости» высотой от одной до нескольких сотен атомных «ступеней».
«Если мы соберем 10 таких ступеней, мы получим стандарт высоты размером 3 нанометра, 100 — 30 нанометров и т. д. Для нанотехнологий существование такого стандарта для калибровки приборов — очень важная задача. На данный момент в мире таких стандартов, меньших, чем 90 — 100 нанометров, нет», — сказал Косолобов.
С помощью созданных в ИФП им. Ржанова сверхгладких поверхностей, отметил он, в оптических микроскопах было достигнуто разрешение в 1 пикометр (одну триллионную часть метра), что является уникальным результатом. Косолобов отметил, что эталон был создан с помощью уникального сверхвысоковакуумного отражательного электронного микроскопа.
«На данный момент в мире только одно место, где можно увидеть такую методику — здесь, в Институте физики полупроводников», — сказал ученый.
По его словам, устройство представляет собой глубоко модернизированный электронный микроскоп, который был произведен в Японии.
«В качестве основной переделки, которую следует отметить — внедрение в этот микроскоп сверхвысоковакуумной камеры», — отметил он.
По его словам, камера позволяет исключить помехи, связанные с влиянием окружающей атмосферы на исследуемую поверхность и, тем самым, изучать ее на атомном уровне. Источник
«Мы создали эталонный объект, его зарегистрировали в Государственном реестре средств измерений РФ, он используется, в частности, производителями силовых микроскопов. Это эталон высоты», — сказал он.
По его словам, в условиях сверхвысокого вакуума удалось получить поверхности, «шероховатости» на которых равны «высоте» одного атома кремния, при этом между ними образуются достаточно широкие «террасы», которые не содержат таких выступов.
«Это самая гладкая поверхность, которую можно получить любыми способами», — сказал он.
Ученый отметил, что размеры таких поверхностей составляют от 10 до 300 микрон, при этом высота одной атомной «ступени» всегда одинакова — 0,3 нанометра, однако технология позволяет построить «шероховатости» высотой от одной до нескольких сотен атомных «ступеней».
«Если мы соберем 10 таких ступеней, мы получим стандарт высоты размером 3 нанометра, 100 — 30 нанометров и т. д. Для нанотехнологий существование такого стандарта для калибровки приборов — очень важная задача. На данный момент в мире таких стандартов, меньших, чем 90 — 100 нанометров, нет», — сказал Косолобов.
С помощью созданных в ИФП им. Ржанова сверхгладких поверхностей, отметил он, в оптических микроскопах было достигнуто разрешение в 1 пикометр (одну триллионную часть метра), что является уникальным результатом. Косолобов отметил, что эталон был создан с помощью уникального сверхвысоковакуумного отражательного электронного микроскопа.
«На данный момент в мире только одно место, где можно увидеть такую методику — здесь, в Институте физики полупроводников», — сказал ученый.
По его словам, устройство представляет собой глубоко модернизированный электронный микроскоп, который был произведен в Японии.
«В качестве основной переделки, которую следует отметить — внедрение в этот микроскоп сверхвысоковакуумной камеры», — отметил он.
По его словам, камера позволяет исключить помехи, связанные с влиянием окружающей атмосферы на исследуемую поверхность и, тем самым, изучать ее на атомном уровне. Источник
Источник - Русская весна
